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    中科潞安檢驗檢測中心對外承接檢測服務

    • 分類:新聞動態
    • 作者:
    • 來源:
    • 發布時間:2022-07-07 16:38
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    【概要描述】“晉芯檢”一站式分析測試實驗室成立于2018年,是由山西中科潞安半導體研究院有限公司全資打造的檢測中心。本中心配備二次離子質譜儀、掃描電子顯微鏡、X射線衍射儀、原子力顯微鏡、透射譜(紫外可見近紅外分光光度計)、霍爾測試系統、拉曼光譜儀、無損方塊電阻測試儀、時間分辨熒光光譜儀和深紫外低溫光譜檢測系統等一系列實驗儀器和裝置,總價值4000余萬元。

    中科潞安檢驗檢測中心對外承接檢測服務

    【概要描述】“晉芯檢”一站式分析測試實驗室成立于2018年,是由山西中科潞安半導體研究院有限公司全資打造的檢測中心。本中心配備二次離子質譜儀、掃描電子顯微鏡、X射線衍射儀、原子力顯微鏡、透射譜(紫外可見近紅外分光光度計)、霍爾測試系統、拉曼光譜儀、無損方塊電阻測試儀、時間分辨熒光光譜儀和深紫外低溫光譜檢測系統等一系列實驗儀器和裝置,總價值4000余萬元。

    • 分類:新聞動態
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    中科潞安檢驗檢測中心對外承接檢測服務

     

    “晉芯檢”一站式分析測試實驗室成立于2018年,是由山西中科潞安半導體研究院有限公司全資打造的檢測中心。本中心配備二次離子質譜儀、掃描電子顯微鏡、X射線衍射儀、原子力顯微鏡、透射譜(紫外可見近紅外分光光度計)、霍爾測試系統、拉曼光譜儀、無損方塊電阻測試儀、時間分辨熒光光譜儀和深紫外低溫光譜檢測系統等一系列實驗儀器和裝置,總價值4000余萬元。

     

     

    二次離子質譜儀(CAMECA 7f-Auto)旨在提高高精度元素和同位素分析的易用性和生產率,可充分滿足行業對高效器件開發和過程控制的要求。采用了從亞納米到幾十納米的深度分辨率范圍對痕量元素的主體組成和深度分布進行分析,可檢測極低濃度的摻雜劑和雜質,該技術提供了從幾埃到幾十微米的寬深度范圍內的元素深度分布。本設備專注于氮化物、硅基、碳化硅等材料分析檢測,有著不亞于國內知名實驗室分析檢測辦法。

     

     

    掃描電子顯微鏡放大倍數可達幾十萬倍,分辨率可達納米級別,是形貌和成分分析領域極其重要的一種手段。中心為SEM配置了能譜(EDX)、陰極熒光(CL)、冷臺等一系列設施。

    本中心擁有一支具有豐富實踐經驗的專業技術隊伍,檢測范圍涵蓋材料和半導體等領域,可進行材料的結構、表面、電學、光學以及物理化學特性分析,并與國內的研發團隊合作,針對產業的需求定制研發解決方案。目前“晉芯檢”實驗室已經與數十家高校、實驗室、企業建立合作關系,為科研機構和企業技術研發提供一站式解決方案。合作客戶遍布分布在北京、上海、西安、南京、杭州、武漢、哈爾濱、珠海、等全國20多個省市地區。

    檢測中心以市場為導向,以服務為宗旨,始終秉承“誠信為本 科研創新 合作共贏”的服務理念,將為客戶提供專業、高效的分析、檢測、測試等技術服務,歡迎來電垂詢。

     

    聯 系 人:樊怡翔

       箱:fanyixiang@luan-uv.cn

       址:http://www.madanpura.com/intro/25.html

    服務電話:0355-5916635

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